Visita Unitat Microscòpia SRCiT - URV
La visita va consistir en una explicació teòrico-pràctica del funcionament i aplicació dels diferents microscopis de recerca de la unitat: microscopi de forces atòmiques (AFM), microscopi electrònic de transmissió (TEM), microscopi electrònic de rastreig a pressió variable i ambiental (ESEM) i microscopi làser de rastreig confocal (MLSC). Els/les alumnes van poder observar mostres que ells mateixos van portar.
